COB BI測試老化試驗箱，專為COB（Chip on Board，板上芯片）封裝及BI（Backlight Inverter，背光逆變器）等電子元件的高溫老化測試設計，遵循ISO 9001質量管理體系及GB/T 2423、IEC 60068等環(huán)境試驗標準。
設備特點：
設備通過模擬長期高溫工況，驗證元件熱穩(wěn)定性、材料耐受性及電氣性能可靠性，適用于研發(fā)驗證、量產篩選及質量抽檢全流程。
精準調控：溫度波動度≤±0.5℃，偏差≤±2.0℃，均勻度≤3℃（滿足GB/T 10592-2008等標準）；快速響應：支持≥10℃/min平均升溫速率（100kg負載），溫度過沖<2.0℃；智能算法：PID自適應調節(jié)，確保長期穩(wěn)定性。人機交互：顯示屏+PLC控制，支持 RS-485 通訊，可與上位機連接；數(shù)據(jù)追溯：內置存儲芯片記錄數(shù)據(jù)，支持U盤導出及Modbus RTU協(xié)議遠程監(jiān)控；故障自檢：10+項安全報警（含加熱器斷路、風機過載、傳感器異常等）。
